APA (7th ed.) Citation

渡邉, 俊. (2023). ArガスクラスターイオンによるLIB負極上のSEI被膜のXPS深さ方向分析. Journal of Surface Analysis, 30(1), 44-51. https://doi.org/10.1384/jsa.30.44

Chicago Style (17th ed.) Citation

渡邉, 俊祐. "ArガスクラスターイオンによるLIB負極上のSEI被膜のXPS深さ方向分析." Journal of Surface Analysis 30, no. 1 (2023): 44-51. https://doi.org/10.1384/jsa.30.44.

MLA (9th ed.) Citation

渡邉, 俊祐. "ArガスクラスターイオンによるLIB負極上のSEI被膜のXPS深さ方向分析." Journal of Surface Analysis, vol. 30, no. 1, 2023, pp. 44-51, https://doi.org/10.1384/jsa.30.44.