焦電結晶を用いた小型EPMAによる軽元素の分析 - 河合, 潤; 今宿, 晋; 大谷, 一誓 (Ｘ線分析の進歩, 2014)
我々が過去に開発した，焦電結晶上に導電性の針を立てた小型電子プローブマイクロアナライザ（EPMA）による分析では，Siを含まない試料でもSiの特性X線が検出されていた．X線取り出し窓に用いていたカプトンテープを粘着剤が使われていないカプトンフィルムに換え，針を立てる台の表面に塗布した真空用グリースをカプトンフィルムとPPC用紙で覆うことで，SiのX線を防ぐことができた．改良を施した装置を用いて製鋼スラグと硫化ニッケル（NiS）のEDXスペクトルを測定したところ，製鋼スラグの分析では，帯電防止処理をせずに主成分であるAl, Ca, Mn, およびFeを検出することができ，硫化ニッケルの分析ではNiとSを検出することができた．低エネルギーのX線は大気と装置に用いたカプトンフィルムによって減衰し，強度が低下した．