軟X線吸収分光法による固体および溶液中の軽元素の状態分析 - 脇田, 久伸; 岩瀨, 元希; 横山, 尚平; 三木, 祐典; 國分, 伸一郎; 栗崎, 敏; 南, 慧多; 迫川, 泰幸; 松尾, 修司 (Ｘ線分析の進歩, 2011)
我々は実験室において50-150 eVの範囲で固体の超軟X線吸収スペクトル測定が可能な装置と九州シンクロトロン光研究センターのBL-12に接続し50-1500 eVの範囲で溶液中の軽金属の軟X線吸収スペクトル測定が可能な装置の開発を行った．前者の装置はレーザーならびに集光光学系，ターゲット，モノクロメーター，検出器と試料室の4つの部分で構成されている．我々はこの装置を用いてハロゲン化リチウムのLi-K XANESスペクトルの測定を行った．後者の装置は7種類の可動軸を有しており，試料を大気圧下で蛍光法によりX線吸収スペクトル測定が可能である．我々は種々の濃度の塩化ナトリウムおよび塩化マグネシウムの水溶液のNaおよびMg-K XANESスペクトルの測定を行った．測定の結果得られたXANESスペクトルはDV-Xα分子軌道法を用いて計算した理論スペクトルを用いて解析を行った．