APA (7th ed.) Citation

竹田, 精., 吉田, 秀., & 桒内, 康. (2011). 実環境下でのプロセス・特性評価のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡とその応用. 顕微鏡, 46(1), 20-23. https://doi.org/10.11410/kenbikyo.46.1_20

Chicago Style (17th ed.) Citation

竹田, 精治, 秀人 吉田, and 康文 桒内. "実環境下でのプロセス・特性評価のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡とその応用." 顕微鏡 46, no. 1 (2011): 20-23. https://doi.org/10.11410/kenbikyo.46.1_20.

MLA (9th ed.) Citation

竹田, 精治, et al. "実環境下でのプロセス・特性評価のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡とその応用." 顕微鏡, vol. 46, no. 1, 2011, pp. 20-23, https://doi.org/10.11410/kenbikyo.46.1_20.