マイクロ波を使ったAgBr乳剤微結晶の導電度測定
立方体および八面体臭化銀微結晶のイオン伝導度を新たに考案したマイクロ波測定法を用いて測定した。八面体では立方体よりも約2.7倍大きい値が得られた。また, 立方体微結晶では誘電損失法による値とほぼ一致した。本測定法は, 従来唯一の測定手段であった誘電損失法とは原理的に異なる別の測定手段を提供すると同時に, 誘電損失法では困難であった晶癖の違いによるイオン伝導度の差を微結晶の形状を考慮することなく測定することができると期待される。...
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| Published in | 日本写真学会誌 Vol. 60; no. 3; pp. 200 - 203 |
|---|---|
| Main Authors | , , , |
| Format | Journal Article |
| Language | Japanese |
| Published |
社団法人 日本写真学会
25.06.1997
|
| Subjects | |
| Online Access | Get full text |
| ISSN | 0369-5662 1884-5932 |
| DOI | 10.11454/photogrst1964.60.200 |
Cover
| Abstract | 立方体および八面体臭化銀微結晶のイオン伝導度を新たに考案したマイクロ波測定法を用いて測定した。八面体では立方体よりも約2.7倍大きい値が得られた。また, 立方体微結晶では誘電損失法による値とほぼ一致した。本測定法は, 従来唯一の測定手段であった誘電損失法とは原理的に異なる別の測定手段を提供すると同時に, 誘電損失法では困難であった晶癖の違いによるイオン伝導度の差を微結晶の形状を考慮することなく測定することができると期待される。 |
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| AbstractList | 立方体および八面体臭化銀微結晶のイオン伝導度を新たに考案したマイクロ波測定法を用いて測定した。八面体では立方体よりも約2.7倍大きい値が得られた。また, 立方体微結晶では誘電損失法による値とほぼ一致した。本測定法は, 従来唯一の測定手段であった誘電損失法とは原理的に異なる別の測定手段を提供すると同時に, 誘電損失法では困難であった晶癖の違いによるイオン伝導度の差を微結晶の形状を考慮することなく測定することができると期待される。 |
| Author | 尾松, 孝茂 長谷川, 朗 立田, 光廣 市田, 元治 |
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| DOI | 10.11454/photogrst1964.60.200 |
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| EISSN | 1884-5932 |
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| PublicationTitle | 日本写真学会誌 |
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| PublicationYear | 1997 |
| Publisher | 社団法人 日本写真学会 |
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| StartPage | 200 |
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