APA (7th ed.) Citation

高野, 雅., 道林, 克., 戸上, 昭., 熊澤, 峰., & 村上, 雅. (1998). 走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成. 鉱物学雜誌, 27(4), 203-212. https://doi.org/10.2465/gkk1952.27.203

Chicago Style (17th ed.) Citation

高野, 雅夫, 克禎 道林, 昭司 戸上, 峰夫 熊澤, and 雅美 村上. "走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成." 鉱物学雜誌 27, no. 4 (1998): 203-212. https://doi.org/10.2465/gkk1952.27.203.

MLA (9th ed.) Citation

高野, 雅夫, et al. "走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成." 鉱物学雜誌, vol. 27, no. 4, 1998, pp. 203-212, https://doi.org/10.2465/gkk1952.27.203.