红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向 - 孙国恩 滕红 张春玲 窦艳丽 徐经伟 (Fēnxī huàxué, 2010)
采用偏振红外光谱和变温红外光谱研究聚合物分散液晶膜中液晶分子取向随外加电场及温度的变化。利用线阵列检测技术表征了聚合物与液晶界面处的成分分布。结果表明,线阵列检测技术能够快速而直观地给出成分分布图,通过该成分分布图可以解释PDLC在温度场作用下分子取向的变化。