Si2Sb2Te5 phase change material studied by an atomic force microscope nano-tip - 刘彦伯 张挺 钮晓鸣 宋志棠 闵国全 张静 周伟民 万永中 张剑平 李小丽 封松林 (Journal of semiconductors, 2009)
Keywords: Ge2Sb2Te5; 原位X射线衍射; 原子力显微镜; 温度变化; 热稳定性; 电阻变化; 相变材料; 纳米