γ全能峰右高左低现象理论分析 - 刘文彪;陈伟;田自宁;王雪梅;苏川英;冯天成 (核技术, 2018)
用HPGe1，谱仪对高活度放射性样品进行测量时，在能谱中出现了全能峰右侧明显高于左侧的现象，为准确定量分析γ放射性核素带来困难。通过理论分析，详细解释了该现象产生的原因，实验验证了理论分析结论是正确的。分析结果表明，全能峰右侧高于左侧的现象主要由偶然符合效应引起，并且总体上全能峰左右两侧高度的比值随死时间增大先增后减，当死时间小于等于1．O％时，全能峰左右两侧高度近似相等，当死时间位于1．0％-4．0％时，峰左右高度比值随死时间而增大，当死时间位于4．0％-56％时，峰左右高度比值随死时间增加而减小。并通过实验结果与LabSOCS计算结果对比，显示右高左低这种现象并不会对点源的能谱测量造成影响。