Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií - Aliaj, Rafaela (2021)
Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
Ústav: Ústav elektroniky a měření
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
Keywords: systém na čipu; SoC; konfokální mikroskop s laserovým skenováním; LSCM; původní a nepůvodní elektronická součástka; counterfeit; ICs; confocal microscopy; detection; methodology; diplomová práce