Staff View: Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Aliaj, Rafaela (Dissertant)
Other Authors:	Neumann, Petr (Thesis advisor)
Format:	Manuscript
Language:	English
Published:	2021
Subjects:	systém na čipu SoC konfokální mikroskop s laserovým skenováním LSCM původní a nepůvodní elektronická součástka counterfeit ICs confocal microscopy detection methodology diplomová práce
Physical Description:	57 p. (12 862 words)


LEADER	01409ntm a22003737u 4500
001	zp60026
041			\|a eng
100	1		\|a Aliaj, Rafaela \|4 dis
245	1	0	\|a Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií
246			\|a The Analysis of Decapsulated Chip Surface with Confocal Microscopy
260			\|c 2021
300			\|a 57 p. (12 862 words)
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
500			\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
500			\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
506			\|a Bez omezení
653			\|a systém na čipu
653			\|a SoC
653			\|a konfokální mikroskop s laserovým skenováním
653			\|a LSCM
653			\|a původní a nepůvodní elektronická součástka
653			\|a counterfeit
653			\|a ICs
653			\|a confocal microscopy
653			\|a LSCM
653			\|a detection
653			\|a methodology
655		4	\|a diplomová práce
700	1		\|a Neumann, Petr \|4 ths
710	2		\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky \|4 dgg
710	2		\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics \|4 dgg
856	4	0	\|u http://hdl.handle.net/10563/49843 \|y Plný text v Digitální knihovně UTB