Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

• Main Author: Aliaj, Rafaela (Dissertant)
• Other Authors: Neumann, Petr (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: English
• Published: 2021
• Subjects: systém na čipu; SoC; konfokální mikroskop s laserovým skenováním; LSCM; původní a nepůvodní elektronická součástka; counterfeit; ICs; confocal microscopy; detection; methodology; diplomová práce
• Physical Description: 57 p. (12 862 words)
• Item Description: Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management; Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management; Ústav: Ústav elektroniky a měření; Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky; Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
• Access: Bez omezení