Staff View: Analýza povrchu čipu optickou mikroskopií

Analýza povrchu čipu optickou mikroskopií

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Matrisi, Alerda (Dissertant)
Other Authors:	Neumann, Petr (Thesis advisor)
Format:	Manuscript
Language:	English
Published:	2021
Subjects:	nepůvodní elektronická součástka systém na čipu optická kontrola polarizační mikroskop stereomikroskop panoramatický snímek Counterfeit decapsulated integrated circuits polarized stereo microscope Panorama Modulus authentication diplomová práce
Physical Description:	61 s.


LEADER	01491ntm a22004097u 4500
001	zp60024
041			\|a eng
100	1		\|a Matrisi, Alerda \|4 dis
245	1	0	\|a Analýza povrchu čipu optickou mikroskopií
246			\|a The Analysis of Decapsulated Chip Surface with Optical Microscopy
260			\|c 2021
300			\|a 61 s.
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
500			\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
500			\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
506			\|a Bez omezení
653			\|a nepůvodní elektronická součástka
653			\|a systém na čipu
653			\|a optická kontrola
653			\|a polarizační mikroskop
653			\|a stereomikroskop
653			\|a panoramatický snímek
653			\|a Counterfeit
653			\|a decapsulated
653			\|a integrated circuits
653			\|a polarized
653			\|a stereo
653			\|a microscope
653			\|a Panorama Modulus
653			\|a authentication
655		4	\|a diplomová práce
700	1		\|a Neumann, Petr \|4 ths
710	2		\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky \|4 dgg
710	2		\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics \|4 dgg
856	4	0	\|u http://hdl.handle.net/10563/49842 \|y Plný text v Digitální knihovně UTB