Analýza povrchu čipu optickou mikroskopií

• Main Author: Matrisi, Alerda (Dissertant)
• Other Authors: Neumann, Petr (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: English
• Published: 2021
• Subjects: nepůvodní elektronická součástka; systém na čipu; optická kontrola; polarizační mikroskop; stereomikroskop; panoramatický snímek; Counterfeit; decapsulated; integrated circuits; polarized; stereo; microscope; Panorama Modulus; authentication; diplomová práce
• Physical Description: 61 s.
• Item Description: Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management; Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management; Ústav: Ústav elektroniky a měření; Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky; Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
• Access: Bez omezení