|
|
|
|
| LEADER |
00000ntm a22000007u 4500 |
| 001 |
zp57479 |
| 041 |
|
|
|a cze
|
| 100 |
1 |
|
|a Willert, Jaroslav
|4 dis
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Vliv poruch měřícího zařízení při testování stínící účinnosti
|
| 246 |
|
|
|a The Influence of Measuring Device Failures During Shielding Effectiveness Testing
|
| 260 |
|
|
|c 2021
|
| 300 |
|
|
|a 76 s. (71 106 znaků)
|
| 500 |
|
|
|a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
|
| 500 |
|
|
|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
|
| 500 |
|
|
|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
|
| 500 |
|
|
|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
|
| 500 |
|
|
|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
|
| 506 |
|
|
|a Bez omezení
|
| 653 |
|
|
|a elektromagnetická kompatibilita
|
| 653 |
|
|
|a stínící účinnost
|
| 653 |
|
|
|a vliv poruch
|
| 653 |
|
|
|a útlum
|
| 653 |
|
|
|a technologické netěsnosti
|
| 653 |
|
|
|a electromagnetic compatibility
|
| 653 |
|
|
|a shielding effectiveness
|
| 653 |
|
|
|a influence of failures
|
| 653 |
|
|
|a attenuation
|
| 653 |
|
|
|a technological leaks
|
| 655 |
|
4 |
|a diplomová práce
|
| 700 |
1 |
|
|a Kovář, Stanislav
|4 ths
|
| 710 |
2 |
|
|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
|4 dgg
|
| 710 |
2 |
|
|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
|4 dgg
|
| 856 |
4 |
0 |
|u http://hdl.handle.net/10563/46098
|y Plný text v Digitální knihovně UTB
|
