Staff View: Vliv poruch měřícího zařízení při testování stínící účinnosti

Vliv poruch měřícího zařízení při testování stínící účinnosti

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Willert, Jaroslav (Dissertant)
Other Authors:	Kovář, Stanislav (Thesis advisor)
Format:	Manuscript
Language:	Czech
Published:	2021
Subjects:	elektromagnetická kompatibilita stínící účinnost vliv poruch útlum technologické netěsnosti electromagnetic compatibility shielding effectiveness influence of failures attenuation technological leaks diplomová práce
Physical Description:	76 s. (71 106 znaků)


LEADER	01470ntm a22003617u 4500
001	zp57479
041			\|a cze
100	1		\|a Willert, Jaroslav \|4 dis
245	1	0	\|a Vliv poruch měřícího zařízení při testování stínící účinnosti
246			\|a The Influence of Measuring Device Failures During Shielding Effectiveness Testing
260			\|c 2021
300			\|a 76 s. (71 106 znaků)
500			\|a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
500			\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
500			\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
506			\|a Bez omezení
653			\|a elektromagnetická kompatibilita
653			\|a stínící účinnost
653			\|a vliv poruch
653			\|a útlum
653			\|a technologické netěsnosti
653			\|a electromagnetic compatibility
653			\|a shielding effectiveness
653			\|a influence of failures
653			\|a attenuation
653			\|a technological leaks
655		4	\|a diplomová práce
700	1		\|a Kovář, Stanislav \|4 ths
710	2		\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky \|4 dgg
710	2		\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics \|4 dgg
856	4	0	\|u http://hdl.handle.net/10563/46098 \|y Plný text v Digitální knihovně UTB