Vliv poruch měřícího zařízení při testování stínící účinnosti

• Main Author: Willert, Jaroslav (Dissertant)
• Other Authors: Kovář, Stanislav (Thesis advisor)
• Format: Manuscript Book
• Language: Czech
• Published: 2021
• Subjects: elektromagnetická kompatibilita; stínící účinnost; vliv poruch; útlum; technologické netěsnosti; electromagnetic compatibility; shielding effectiveness; influence of failures; attenuation; technological leaks; diplomová práce
• Physical Description: 76 s. (71 106 znaků)
• Item Description: Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management; Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management; Ústav: Ústav elektroniky a měření; Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky; Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
• Access: Bez omezení