Analýza silikátových materiálů pomocí XRF

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Pospíšil, Josef (Dissertant)
Other Authors: Bednařík, Vratislav (Thesis advisor)
Format: Manuscript
Language: Czech
Published: 2007
Subjects:
Physical Description: 69 s.

Cover

LEADER 01335ntm a22003617u 4500
001 zp5310
041 |a cze 
100 1 |a Pospíšil, Josef  |4 dis 
245 1 0 |a Analýza silikátových materiálů pomocí XRF 
246 |a Analysis of silicate materials by XRF 
260 |c 2007 
300 |a 69 s. 
500 |a Studijní obor: Inženýrství ochrany životního prostředí 
500 |a Studijní obor: Enviromental Protection Engineering 
500 |a Ústav: Ústav inženýrství ochrany živ. prostředí 
500 |a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta technologická 
500 |a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Technology 
506 |a Pouze v rámci univerzity 
653 |a rentgenové fluorescenční spektrometrie 
653 |a analýza silikátů 
653 |a ElvaX 
653 |a kalibrace 
653 |a směsné standardy 
653 |a X-ray fluorescence spectrometry 
653 |a silicate analysis 
653 |a ElvaX 
653 |a calibration 
653 |a mixed standards 
655 4 |a diplomová práce 
700 1 |a Bednařík, Vratislav  |4 ths 
710 2 |a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta technologická  |4 dgg 
710 2 |a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Technology  |4 dgg 
856 4 0 |u http://hdl.handle.net/10563/3061  |y Plný text v Digitální knihovně UTB