Analýza silikátových materiálů pomocí XRF

• Main Author: Pospíšil, Josef (Dissertant)
• Other Authors: Bednařík, Vratislav (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2007
• Subjects: rentgenové fluorescenční spektrometrie; analýza silikátů; ElvaX; kalibrace; směsné standardy; X-ray fluorescence spectrometry; silicate analysis; calibration; mixed standards; diplomová práce
• Physical Description: 69 s.
• Item Description: Studijní obor: Inženýrství ochrany životního prostředí; Studijní obor: Enviromental Protection Engineering; Ústav: Ústav inženýrství ochrany živ. prostředí; Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta technologická; Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Technology
• Access: Pouze v rámci univerzity