Současné trendy v hodnocení topografie povrchu pomocí světelné mikroskopie

• Main Author: Ryzí, Adriana (Dissertant)
• Other Authors: Čermák, Roman (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2016
• Subjects: světelná mikroskopie; mikroskopické metody; hloubka ostrosti; index lomu; metamateriál; light microscopy; microscopic methods; refractive index; depth acuteness; metamaterial; bakalářská práce
• Physical Description: 67 s.
• Item Description: Studijní obor: Polymerní materiály a technologie; Studijní obor: Polymeric Materials and Technology; Ústav: Ústav inženýrství polymerů; Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta technologická; Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Technology
• Access: Bez omezení