Staff View: Zpracování náhodných signálů při šumové diagnostice polovodičových struktur.

Zpracování náhodných signálů při šumové diagnostice polovodičových struktur.

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Kaňovský, Radek (Dissertant)
Other Authors:	Křesálek, Vojtěch (Thesis advisor)
Format:	Manuscript
Language:	Czech
Published:	2006
Subjects:	fluctuation noise semiconductor diode Lock-in SR 830 DSP HP VEE 6.0 fluktuace šum polovodičová dioda diplomová práce
Physical Description:	101 s., 4 s. obr. příloh


LEADER	01446ntm a22003617u 4500
001	zp4017
041			\|a cze
100	1		\|a Kaňovský, Radek \|4 dis
245	1	0	\|a Zpracování náhodných signálů při šumové diagnostice polovodičových struktur.
246			\|a Processing of random signals during the diagnostics of semiconductor structures
260			\|c 2006
300			\|a 101 s., 4 s. obr. příloh
500			\|a Studijní obor: Automatické řízení a informatika
500			\|a Studijní obor: Automatic Control and Informatics
500			\|a Ústav: Ústav automatizace a řídicí techniky
500			\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
500			\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
506			\|a Práce bude přístupná pouze v rámci univerzity od 26.05.2008
653			\|a fluctuation
653			\|a noise
653			\|a semiconductor diode
653			\|a Lock-in SR 830 DSP
653			\|a HP VEE 6.0
653			\|a fluktuace
653			\|a šum
653			\|a polovodičová dioda
653			\|a Lock-in SR 830 DSP
653			\|a HP VEE 6.0
655		4	\|a diplomová práce
700	1		\|a Křesálek, Vojtěch \|4 ths
710	2		\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics \|4 dgg
710	2		\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky \|4 dgg
856	4	0	\|u http://hdl.handle.net/10563/1234 \|y Plný text v Digitální knihovně UTB