Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie - Martínek, Tomáš (2013)
Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
Ústav: Ústav elektroniky a měření
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
Keywords: Mikroskopie atomárních sil; skenovací mikrovlnná mikroskopie; metrologie; vizualizace; Atomic Force Microscopy; Scanning Microwave Microscopy; Metrology; Visualization; diplomová práce