Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil - Kudělka, Josef (2013)
Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
Ústav: Ústav elektroniky a měření
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
Keywords: mikroskopie skenující sondou; SPM; mikroskopie atomárních sil; AFM; skenovací mikrovlnná mikroskopie; SMM; scanning probe microscopy; atomic force microscopy; scanning microwave microscopy; diplomová práce