Staff View: Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil

Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Kudělka, Josef (Dissertant)
Other Authors:	Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format:	Manuscript
Language:	Czech
Published:	2013
Subjects:	mikroskopie skenující sondou SPM mikroskopie atomárních sil AFM skenovací mikrovlnná mikroskopie SMM scanning probe microscopy atomic force microscopy scanning microwave microscopy diplomová práce
Physical Description:	63s


LEADER	01452ntm a22003857u 4500
001	zp31283
041			\|a cze
100	1		\|a Kudělka, Josef \|4 dis
245	1	0	\|a Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil
246			\|a Projection of Semiconductor Structures Using Atomic Microscopy
260			\|c 2013
300			\|a 63s
500			\|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
500			\|a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
500			\|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
500			\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
500			\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
506			\|a Bez omezení
653			\|a mikroskopie skenující sondou
653			\|a SPM
653			\|a mikroskopie atomárních sil
653			\|a AFM
653			\|a skenovací mikrovlnná mikroskopie
653			\|a SMM
653			\|a scanning probe microscopy
653			\|a SPM
653			\|a atomic force microscopy
653			\|a AFM
653			\|a scanning microwave microscopy
653			\|a SMM
655		4	\|a diplomová práce
700	1		\|a Navrátil, Milan \|4 ths
710	2		\|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky \|4 dgg
710	2		\|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics \|4 dgg
856	4	0	\|u http://hdl.handle.net/10563/25506 \|y Plný text v Digitální knihovně UTB