|
|
|
|
| LEADER |
00000ntm a22000007u 4500 |
| 001 |
zp31283 |
| 041 |
|
|
|a cze
|
| 100 |
1 |
|
|a Kudělka, Josef
|4 dis
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil
|
| 246 |
|
|
|a Projection of Semiconductor Structures Using Atomic Microscopy
|
| 260 |
|
|
|c 2013
|
| 300 |
|
|
|a 63s
|
| 500 |
|
|
|a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
|
| 500 |
|
|
|a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
|
| 500 |
|
|
|a Ústav: Ústav elektroniky a měření
|
| 500 |
|
|
|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
|
| 500 |
|
|
|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
|
| 506 |
|
|
|a Bez omezení
|
| 653 |
|
|
|a mikroskopie skenující sondou
|
| 653 |
|
|
|a SPM
|
| 653 |
|
|
|a mikroskopie atomárních sil
|
| 653 |
|
|
|a AFM
|
| 653 |
|
|
|a skenovací mikrovlnná mikroskopie
|
| 653 |
|
|
|a SMM
|
| 653 |
|
|
|a scanning probe microscopy
|
| 653 |
|
|
|a SPM
|
| 653 |
|
|
|a atomic force microscopy
|
| 653 |
|
|
|a AFM
|
| 653 |
|
|
|a scanning microwave microscopy
|
| 653 |
|
|
|a SMM
|
| 655 |
|
4 |
|a diplomová práce
|
| 700 |
1 |
|
|a Navrátil, Milan
|4 ths
|
| 710 |
2 |
|
|a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
|4 dgg
|
| 710 |
2 |
|
|a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
|4 dgg
|
| 856 |
4 |
0 |
|u http://hdl.handle.net/10563/25506
|y Plný text v Digitální knihovně UTB
|
