Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil

• Main Author: Kudělka, Josef (Dissertant)
• Other Authors: Navrátil, Milan (Thesis advisor)
• Format: Manuscript
• Language: Czech
• Published: 2013
• Subjects: mikroskopie skenující sondou; SPM; mikroskopie atomárních sil; AFM; skenovací mikrovlnná mikroskopie; SMM; scanning probe microscopy; atomic force microscopy; scanning microwave microscopy; diplomová práce
• Physical Description: 63s
• Item Description: Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management; Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management; Ústav: Ústav elektroniky a měření; Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky; Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
• Access: Bez omezení