Zobrazování biologických struktur užitím mikroskopie atomárních sil - Vaculka, Tomáš (2012)
Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management
Ústav: Ústav elektroniky a měření
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics
Keywords: AFM; mikroskopie atomárních sil; mikroskopie skenující sondou; biologické materiály; nosník; hrot; kontaktní režim; bezkontaktní režim; poklepový režim; artefakty; atomic force microscopy; scanning probe microscopy; biological samples; cantilever; tip; contact mode; non-contact mode; semi-contact mode; artifacts; diplomová práce