Zobrazování biologických struktur užitím mikroskopie atomárních sil

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Vaculka, Tomáš (Dissertant)
Other Authors: Navrátil, Milan (Thesis advisor)
Format: Manuscript
Language: Czech
Published: 2012
Subjects:
AFM
mikroskopie atomárních sil
mikroskopie skenující sondou
biologické materiály
nosník
hrot
kontaktní režim
bezkontaktní režim
poklepový režim
artefakty
atomic force microscopy
scanning probe microscopy
biological samples
cantilever
tip
contact mode
non-contact mode
semi-contact mode
artifacts
diplomová práce
Physical Description: 95 s.

Cover

LEADER 01697ntm a22004817u 4500
001 zp26471
041 |a cze 
100 1 |a Vaculka, Tomáš  |4 dis 
245 1 0 |a Zobrazování biologických struktur užitím mikroskopie atomárních sil 
246 |a Biological Structure Projection Using Atomic Force Microscopy<br> 
260 |c 2012 
300 |a 95 s. 
500 |a Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management 
500 |a Studijní obor: Security Technologies, Systems and Management 
500 |a Ústav: Ústav elektroniky a měření 
500 |a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky 
500 |a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics 
506 |a Bez omezení 
653 |a AFM 
653 |a mikroskopie atomárních sil 
653 |a mikroskopie skenující sondou 
653 |a biologické materiály 
653 |a nosník 
653 |a hrot 
653 |a kontaktní režim 
653 |a bezkontaktní režim 
653 |a poklepový režim 
653 |a artefakty 
653 |a AFM 
653 |a atomic force microscopy 
653 |a scanning probe microscopy 
653 |a biological samples 
653 |a cantilever 
653 |a tip 
653 |a contact mode 
653 |a non-contact mode 
653 |a semi-contact mode 
653 |a artifacts 
655 4 |a diplomová práce 
700 1 |a Navrátil, Milan  |4 ths 
710 2 |a Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky  |4 dgg 
710 2 |a Tomas Bata University in Zlín. Faculty of Applied Informatics  |4 dgg 
856 4 0 |u http://hdl.handle.net/10563/18692  |y Plný text v Digitální knihovně UTB 

Similar Items