Properties of porous silicon

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author INSPEC (Information service)
Other Authors Canham, Leigh T.
Format Electronic eBook
LanguageEnglish
Published London : IEE : INSPEC, ©1987.
SeriesEMIS datareviews series ; no. 18.
Subjects
Porous silicon.
Semiconductors.
elektronické knihy
electronic books
Online AccessFull text
ISBN1591248582
9781591248583
0852969325
9780852969328
Physical Description1 online resource (xviii, 405 pages) : illustrations

Cover

More Information
Bibliography:Includes bibliographical references and index.
ISBN:1591248582
9781591248583
0852969325
9780852969328
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty
Physical Description:1 online resource (xviii, 405 pages) : illustrations

Similar Items