Characterization of semiconductor materials : principles and methods

Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, and Ion/Solid Interactions.

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: McGuire, G. E.
Format: eBook
Language: English
Published: Park Ridge, N.J. : Noyes Publications, ©1989-
Series: Materials science and process technology series.
Subjects:
Semiconductors > Handbooks, manuals, etc.
elektronické knihy
electronic books
ISBN: 1591240271
9781591240273
9780815516347
0815516347
0815512007
9780815512004
Physical Description: 1 online resource (volumes <1>) : illustrations.

Cover

Table of contents

LEADER 02535cam a2200421Ma 4500
001 kn-ocm49708634
003 OCoLC
005 20240717213016.0
006 m o d
007 cr cn|||||||||
008 011103m19899999njua obf 001 0 eng d
040 |a KNOVL  |b eng  |e pn  |c KNOVL  |d OCLCQ  |d TEF  |d DEBSZ  |d OCLCQ  |d OCLCE  |d COO  |d UMC  |d KNOVL  |d ZCU  |d KNOVL  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d KNOVL  |d OCL  |d OCLCQ  |d VT2  |d OCLCQ  |d CEF  |d RRP  |d AU@  |d WYU  |d YOU  |d HS0  |d UKBTH  |d S2H  |d UX1  |d SXB  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCL 
020 |a 1591240271  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781591240273  |q (electronic bk.) 
020 |a 9780815516347  |q (v. 1) 
020 |a 0815516347  |q (v. 1) 
020 |z 0815512007  |q (v. 1) 
020 |z 9780815512004  |q (v. 1) 
035 |a (OCoLC)49708634  |z (OCoLC)49270361  |z (OCoLC)297327156  |z (OCoLC)468763548  |z (OCoLC)644722399  |z (OCoLC)961849192  |z (OCoLC)988698864  |z (OCoLC)999581721  |z (OCoLC)1057936197  |z (OCoLC)1058876250  |z (OCoLC)1066540135  |z (OCoLC)1077798096  |z (OCoLC)1096905100  |z (OCoLC)1108993621  |z (OCoLC)1113039227  |z (OCoLC)1116704274  |z (OCoLC)1136277973  |z (OCoLC)1152044419  |z (OCoLC)1159662327  |z (OCoLC)1166998313  |z (OCoLC)1180918760 
042 |a dlr 
245 0 0 |a Characterization of semiconductor materials :  |b principles and methods /  |c edited by Gary E. McGuire. 
260 |a Park Ridge, N.J. :  |b Noyes Publications,  |c ©1989- 
300 |a 1 online resource (volumes <1>) :  |b illustrations. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Materials science and process technology series 
506 |a Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty 
520 |a Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, and Ion/Solid Interactions. 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
590 |a Knovel  |b Knovel (All titles) 
650 0 |a Semiconductors  |v Handbooks, manuals, etc. 
655 7 |a elektronické knihy  |7 fd186907  |2 czenas 
655 9 |a electronic books  |2 eczenas 
700 1 |a McGuire, G. E. 
776 0 8 |i Print version:  |t Characterization of semiconductor materials.  |d Park Ridge, N.J. : Noyes Publications, ©1989-  |z 0815512007  |w (DLC) 89030273  |w (OCoLC)19221501 
830 0 |a Materials science and process technology series. 
856 4 0 |u https://proxy.k.utb.cz/login?url=https://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpCSMPMV01/characterization-of-semiconductor?kpromoter=marc  |y Full text 

Similar Items