Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: Lanza, Mario.
Format: eBook
Language: English
Published: Weinheim : Wiley-VCH, 2017.
Subjects:
ISBN: 9783527699773
9783527699780
9783527340910
9783527699797
Physical Description: 1 online resource (250 pages)

Cover

Table of contents

LEADER 02284cam a2200517 a 4500
001 97080
003 CZ-ZlUTB
005 20240914110338.0
006 m o d
007 cr |n|||||||||
008 170818s2017 gw fo 001 0 eng d
999 |c 97080  |d 97080 
020 |a 9783527699773  |q (electronic bk. ;  |q oBook) 
020 |a 9783527699780  |q (electronic bk.) 
020 |a 9783527340910 
020 |a 9783527699797 
035 |a (OCoLC)1001349572  |z (OCoLC)1013515627  |z (OCoLC)1122183491  |z (OCoLC)1135832607  |z (OCoLC)1152643889  |z (OCoLC)1156374463 
040 |a IDEBK  |b eng  |e pn  |c IDEBK  |d DG1  |d OCLCF  |d UPM  |d OCLCQ  |d IDEBK  |d OCLCQ  |d KSU  |d U3W  |d CNCGM  |d UUM  |d AU@  |d OCLCQ  |d REDDC  |d LOA  |d K6U  |d VT2 
072 7 |a 620.1/.2  |x Nauka o materiálu  |2 Konspekt  |9 19 
080 |a [53.086:004.352]:539.186  |2 MRF 
080 |a 620.2-022.513.2  |2 MRF 
080 |a (0.034.2:08)   |2 MRF 
080 |a (082)  |2 MRF 
245 0 0 |a Conductive atomic force microscopy :  |b applications in nanomaterials /  |c edited by Mario Lanza. 
260 |a Weinheim :  |b Wiley-VCH,  |c 2017. 
300 |a 1 online resource (250 pages) 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a počítač  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online zdroj  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
506 |a Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty 
590 |a John Wiley and Sons  |b Wiley Online Library All Obooks 
650 0 7 |a mikroskopie atomárních sil  |2 czenas  |7 ph443887 
650 0 7 |a nanomateriály  |2 czenas  |7 ph138053 
650 0 9 |a atomic force microscopy  |2 eczenas 
650 0 9 |a nanomaterials  |2 eczenas 
655 7 |a elektronické knihy  |7 fd186907  |2 czenas 
655 7 |a sborníky  |7 fd163935   |2 czenas 
655 9 |a electronic books  |2 eczenas 
655 9 |a papers of several authors  |2 eczenas 
700 1 |a Lanza, Mario. 
776 0 8 |i Print version:  |t Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials.  |d Weinheim, Germany : Wiley-VCH, c2017  |h approximately 99 pages  |z 9783527340910 
856 4 0 |u https://proxy.k.utb.cz/login?url=https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527699773  |y Plný text 
942 |2 udc 
992 |c NTK-Wiley 
993 |x NEPOSILAT  |y EIZ