Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors Lanza, Mario
Format Electronic eBook
LanguageEnglish
Published Weinheim : Wiley-VCH, 2017.
Subjects
Online AccessFull text
ISBN9783527699773
9783527699780
9783527340910
9783527699797
Physical Description1 online resource (250 pages)

Cover

More Information
Bibliography:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9783527699773
9783527699780
9783527340910
9783527699797
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty
Physical Description:1 online resource (250 pages)