Description: Conductive atomic force microscopy :

Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials

Saved in:

Bibliographic Details
Other Authors:	Lanza, Mario.
Format:	eBook
Language:	English
Published:	Weinheim : Wiley-VCH, 2017.
Subjects:	mikroskopie atomárních sil nanomateriály atomic force microscopy nanomaterials elektronické knihy sborníky electronic books papers of several authors
ISBN:	9783527699773 9783527699780 9783527340910 9783527699797
Physical Description:	1 online resource (250 pages)

Description
Bibliography:	Includes bibliographical references and index.
ISBN:	9783527699773 9783527699780 9783527340910 9783527699797
Access:	Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty