Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Wagner, Lawrence C. (Author)
Format: Book
Language: English
Published: New York : Springer Science+Business Media, LLC, 1999
Edition: 1st edition
Subjects:
ISBN: 9781461372318
Physical Description: ix, 255 stran : černobílé ilustrace ; 24 cm

Cover

Table of contents

LEADER 01757nam a2200469 i 4500
001 92312
003 CZ ZlUTB
005 20190826013451.0
007 ta
008 190206s1999 xxua f f 001 0 eng d
020 |a 9781461372318  |q (brožováno) 
040 |a ZLD002  |b cze  |e rda 
072 7 |a 621.3  |x Elektrotechnika  |2 Konspekt  |9 19 
080 |a 621.3.049.77  |2 MRF 
080 |a 621.315.59  |2 MRF 
080 |a 621.38:005.955.33  |2 MRF 
080 |a 62-027.45  |2 MRF 
080 |a (035)  |2 MRF 
245 0 0 |a Failure analysis of integrated circuits :  |b tools and techniques /  |c edited by Lawrence C. Wagner 
250 |a 1st edition 
264 1 |a New York :  |b Springer Science+Business Media, LLC,  |c 1999 
300 |a ix, 255 stran :  |b černobílé ilustrace ;  |c 24 cm 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a bez média  |b n  |2 rdamedia 
338 |a svazek  |b nc  |2 rdacarrier 
504 |a Obsahuje bibliografie a rejstřík 
650 0 7 |a integrované obvody  |7 ph114781  |2 czenas 
650 0 7 |a polovodiče  |7 ph124272  |2 czenas 
650 0 7 |a testování elektronických systémů  |7 ph330269  |2 czenas 
650 0 7 |a spolehlivost (technika)  |7 ph125917  |2 czenas 
650 0 9 |a integrated circuits  |2 eczenas 
650 0 9 |a semiconductors  |2 eczenas 
650 0 9 |a testing of electronic systems  |2 eczenas 
650 0 9 |a reliability (engineering)  |2 eczenas 
655 7 |a příručky  |7 fd133209  |2 czenas 
655 9 |a handbooks and manuals  |2 eczenas 
700 1 |a Wagner, Lawrence C.  |7 utb20191022997  |4 aut 
910 |a ZLD002 
992 |a BK  |b SK  |d 1 
993 |a 201902  |b 19 
999 |c 92312  |d 92312 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 6213FAILURE  |7 0  |8 BOOK  |9 149821  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 007  |d 2019-02-06  |l 1  |m 1  |o 621.3/FAILURE  |p 420010178347  |q 2028-12-21  |r 2019-08-26  |v 2920.00  |w 2019-08-26  |x N:nákup;  |y 08