Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author Wagner, Lawrence C. (Author)
Format Book
LanguageEnglish
Published New York : Springer Science+Business Media, LLC, 1999
Edition1st edition
Subjects
integrované obvody
polovodiče
testování elektronických systémů
spolehlivost (technika)
integrated circuits
semiconductors
testing of electronic systems
reliability (engineering)
příručky
handbooks and manuals
ISBN9781461372318
Physical Descriptionix, 255 stran : černobílé ilustrace ; 24 cm

Cover

TOC from ObalkyKnih.cz
More Information
Bibliography:Obsahuje bibliografie a rejstřík
ISBN:9781461372318
Physical Description:ix, 255 stran : černobílé ilustrace ; 24 cm

Similar Items