Value analysis tear-down a new process for product development and innovation

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author Sato, Yoshihiko
Other Authors Kaufman, J. Jerry
Format Electronic eBook
LanguageEnglish
Published New York : Industrial Press : Society of Manufacturing Engineers, 2005.
Edition1st ed.
Subjects
Online AccessFull text
ISBN9781615835799
9780831132033
Physical Description1 online zdroj (x, 206 p.) : ill.

Cover

More Information
Bibliography:Includes bibliographical references (p. 199) and index.
ISBN:9781615835799
9780831132033
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity
Physical Description:1 online zdroj (x, 206 p.) : ill.