In-situ electron microscopy at high resolution

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors: Banhart, Florian.
Format: eBook
Language: English
Published: Hackensack, NJ : World Scientific, c2008.
Subjects:
ISBN: 9781613440797
9789812797339
Physical Description: 1 online zdroj (vi, 311 p.) : ill. (some col.)

Cover

Table of contents

LEADER 01584cam a2200325 a 4500
001 78989
003 CZ ZlUTB
005 20200530181212.0
006 m o d
007 cr |n
008 110727s2008 njua sb 001 0 eng d
020 |a 9781613440797  |q (ebook) 
020 |a 9789812797339 
035 |a (OCoLC)743097451  |z (OCoLC)696629586 
040 |a KNOVL  |b eng  |c KNOVL  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d OCLCQ  |d KNOVL  |d ZCU  |d KNOVL  |d OCLCF  |d M6U  |d COO  |d E7B  |d KNOVL 
245 0 0 |a In-situ electron microscopy at high resolution  |h [elektronický zdroj] /  |c editor, Florian Banhart. 
260 |a Hackensack, NJ :  |b World Scientific,  |c c2008. 
300 |a 1 online zdroj (vi, 311 p.) :  |b ill. (some col.) 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
590 |a Knovel Library  |b ACADEMIC - Electronics & Semiconductors 
506 |a Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity 
650 0 |a Electron microscopy  |x Technique. 
650 0 |a High resolution electron microscopy. 
655 7 |a elektronické knihy  |7 fd186907  |2 czenas 
655 9 |a electronic books  |2 eczenas 
700 1 |a Banhart, Florian. 
776 0 8 |i Print version:  |t In-situ electron microscopy at high resolution.  |d Hackensack, NJ : World Scientific, c2008  |z 9789812797339  |w (DLC) 2008301306  |w (OCoLC)321045016 
856 4 0 |u https://proxy.k.utb.cz/login?url=http://app.knovel.com/hotlink/toc/id:kpIEMHR009/iinsitui_electron_microscopy_at_high_resolution  |y Plný text 
992 |a BK  |c KNOVEL 
999 |c 78989  |d 78989