System-on-chip test architectures nanometer design for testability

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors Wang, Laung-Terng
Format eBook
LanguageEnglish
Published Amsterdam : Elsevier, 2007.
SeriesSystems on silicon
Subjects
Systems on a chip > Testing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Design.
elektronické knihy
electronic books
Online AccessFull text
ISBN9780123739735
Physical Description1 online zdroj.

Cover

More Information
Bibliography:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9780123739735
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity
Physical Description:1 online zdroj.

Similar Items