Reliability of MEMS : testing of materials and devices

Saved in:
Bibliographic Details
Other Authors Tabata, Osamu, 1956- (Editor), Tsuchiya, Toshiyuki (Editor)
Format Book
LanguageEnglish
Published Weinheim : Wiley-VCH, [2013]
Edition[New edition]
SeriesAdvanced micro & nanosystems
Subjects
mikroelektromechanické systémy
spolehlivost (technika)
testování elektronických systémů
zkoušení materiálů
microelectromechanical systems
reliability (engineering)
testing of electronic systems
material testing
sborníky
papers of several authors
ISBN9783527335015
978-3-527-67503-6
Physical Descriptionxx, 303 stran : černobílé ilustrace ; 25 cm

Cover

More Information
Bibliography:Obsahuje bibliografické odkazy a rejstřík
ISBN:9783527335015
978-3-527-67503-6
Physical Description:xx, 303 stran : černobílé ilustrace ; 25 cm

Similar Items