Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author Haugstad, Greg, 1963- (Author)
Corporate Author John Wiley & Sons
Format Electronic eBook
LanguageEnglish
Published Hoboken. : Wiley, [2012]
Subjects
mikroskopie atomárních sil
atomic force microscopy
monografie
elektronické knihy
monographs
electronic books
Online AccessFull text
ISBN9781118360668
978-0-470-63882-8
Physical Description1 online zdroj (xxii, 464 stran) : ilustrace

Cover

More Information
Bibliography:Obsahuje bibliografie a rejstřík
ISBN:9781118360668
978-0-470-63882-8
Access:Plný text je dostupný pouze z IP adres počítačů Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně nebo vzdáleným přístupem pro zaměstnance a studenty univerzity
Physical Description:1 online zdroj (xxii, 464 stran) : ilustrace

Similar Items