Digital logic testing and simulation

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Miczo, Alexander (Author)
Format: Book
Language: English
Published: Hoboken, NJ : Wiley-Interscience, c2003
Edition: 2nd ed.
Subjects:
ISBN: 0471439959
Physical Description: xxii, 668 s. : il. ; 25 cm

Cover

Table of contents

LEADER 01439cam a2200349 a 4500
001 29811
003 CZ ZlUTB
005 20190825235805.0
008 030107s2003 xxua b 001 0 eng
020 |a 0471439959  |q (váz.) 
040 |a DLC  |c DLC  |d DLC  |d ZLD002 
072 7 |a 621.38  |x Elektronika  |2 Konspekt  |9 19 
080 |a 621.38:005.955.33  |2 MRF 
080 |a 621.3.037.37  |2 MRF 
080 |a 004.94  |2 MRF 
080 |a 519.86/.87  |2 MRF 
100 1 |a Miczo, Alexander  |7 utb2010599414  |4 aut 
245 1 0 |a Digital logic testing and simulation /  |c Alexander Miczo 
250 |a 2nd ed. 
260 |a Hoboken, NJ :  |b Wiley-Interscience,  |c c2003 
300 |a xxii, 668 s. :  |b il. ;  |c 25 cm 
504 |a Obsahuje bibliografické odkazy a rejstřík 
650 0 7 |a testování elektronických systémů  |7 ph330269  |2 czenas 
650 0 7 |a modelování a simulace  |7 ph125543  |2 czenas 
650 0 7 |a digitální systémy  |7 ph216296  |2 czenas 
856 4 2 |3 Údaje o autorovi  |u http://www.loc.gov/catdir/bios/wiley046/2003041100.html 
856 4 2 |3 Informace od vydavatele  |u http://www.loc.gov/catdir/description/wiley039/2003041100.html 
856 4 1 |3 Obsah  |u http://www.loc.gov/catdir/toc/wiley032/2003041100.html 
910 |a ZLD002 
992 |a BK  |d 1 
999 |c 29811  |d 29811 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 62138MICZOA  |7 0  |8 BOOK  |9 72203  |a UTBZL  |b UTBZL  |c 007  |d 2007-02-02  |l 1  |m 2  |o 621.38/MICZO,A.  |p 420010105202  |q 2028-12-21  |r 2019-08-25  |v 3747.00  |w 2019-08-25  |x N.nákup  |x 20100630  |y 08